تعداد ۱ پاسخ غیر تکراری از ۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۳,۷۳ ثانیه یافت شد.

1. Reliability, yield, and stress burn-in: a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development

پدیدآورنده : Kuo, Way

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)

موضوع : ، Integrated circuits-- Design and construction-- Reliability,، Microelectronics-- Reliability,، Computer software-- Development-- Reliability,، Semiconductors-- Computer programs-- Reliability

رده :

TK

7874

.

K867

1998

»
1
«

تتم إدارة هذا الموقع عبر مؤسسة دار الحديث العلمية - الثقافية ومركز البحوث الكمبيوترية للعلوم الإسلامية (نور)
المكتبات هي المسؤولة عن صحة المعلومات كما أن الحقوق المعنوية للمعلومات متعلقة بها